CMI900X荧光镀层测厚仪 - 荧光测厚仪 - 涂层/涂装检测设备 - 无损检测 - 产品分类 - 上海淞涵精密设备科技有限公司

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产品名称：CMI900X荧光镀层测厚仪

产品编号：SY1302004

产地：英国

CMI900 是一款性价比极高的台式 X 射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。

涂镀层厚度测量和/或成分分析，元素范围 Ti - U
可同时进行多达15层元素成分分析
测量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987

应用：

多镀层金属厚度测量
合金鉴定及化学分析
电镀液分析
金成色分析特点：
- 标准50瓦微焦X射线管
  - 计数率增加，精度提高
  - 可升级75瓦光管
- 多准直器
  - 计数率和光斑尺寸之间的最佳平衡
- 镭射聚焦
  - 改善系统再现性（消除人为干扰）
- 标准FP软件包
  - 综合应用模式
  - 简单校准
- 开槽式设计样品台，自动寻找适合所设定焦距的Z轴坐标
- 提供中文等7种语言界面
规格：
- X射线激发
  - 50 瓦微聚焦钨靶 X 射线管
- 探测器
  - 氙气填充的正比计数器
- 数字脉冲处理
  - 4096 多道数据分析功能
  - 自动信号处理，包括死时间修正
- 计算机
  - 奔腾 D，3.0 GHz，160 Gb 硬盘，512Mb 内存，MicrosoftTM XP 系统 **同等配置或更好
- 电源
  - 85~130 或 215~265 伏，频率范围：47Hz - 63Hz
- 工作环境
  - 50°F (10°C) - 104°F (40°C) ，相对湿度达98%，非凝固状态
- 工作台行程（XYZ 轴可调节）
  - 6" x 7" x 1.9" (15.2cm x 17.8cm x 4.8cm)

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